全自动高频元件测试系统


高温运转条件下-电子元件使用寿命周期预测系统


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贝克尔公司是第一家提供高频测试系统交钥匙工程的供应商,该系统可靠地保证了测试系统全自动化的执行,并且不需要人工干预多频段的测试。该系统为每一个接受测试的元部件提供精确、持续、稳定的高输出功率并持续监控被检测元部件的插入损耗。测试周期的进度透明化地呈现给操作者,任何与预设值不相符合的误差都将被立即显示出来。测试周期可以被灵活地设置与控制。由于系统集成了网络界面,因此用户在操作时无需承担软件开发的开支。系统的模块化结构也满足了客户进一步的升级需求。


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在对于比如HTOL(高温使用寿命)等微电子元部件的可靠性测试时,元部件将会被运行至极限值范围(绝对最大极限值)。如果运行超过允许的极限值将损坏元部件。
高频多重信号源的电平值必须在长达1000小时以上的运行时间中给多通道提供精确和稳定的信号。如有损坏的元部件在被测试时,所产生的信号必须不能影响其他通道的电平值。
在接通电源或输入电平值发生变化时,必须避免电平的瞬间过冲,因为即使很短时间的电平过冲也会对测试元部件造成损坏。
为了满足这些要求,必须在高频多重信号源的高温使用寿命预案中考虑到这些因素。贝克尔公司的模块化高频信号源在每个通道都有电平控制,以确保每个信号通道的电平值的精度和长时间稳定性。信号输出端在高去耦时所产生的大约80分贝音量可防止电平之间的互相影响。


letzte Änderung: 10.02.2021